熊本大学半導体・デジタル研究教育機構
機能性ナノ構造研究室

透過型電子顕微鏡の依頼分析・技術相談

　透過型電子顕微鏡（TEM）や走査透過型電子顕微鏡（STEM）を用いた材料やデバイスの分析について、分析の依頼や技術相談を受け付けています。電圧印加その場TEM観察や高精度原子分解能STEM測定など、特色ある分析法についても相談に応じます。